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MFS-F
手动光学薄膜厚度量测仪
量测功能 薄膜厚度、反射率、色度
系统模式 反射式光纤 或
反射式积分球（8/D, D/8Selective）
波长范围 400-850nm
量测膜厚范围 300-400,000 Angstrom  
精度 ±1%
重复性 ±1%
量测速度 少于1秒
量测光源 卤素灯
适用样品 光学镀膜 (玻璃,丙烯酸,PET,矽晶圆SiO2,ITO,ZnO,CuO) 
蓝宝石GaN,彩色滤片,太阳能电池,偏光镜等
系统平台 固定平台、x-y stage、自动平台
亦可客制化样品台
选购 显微镜、色差量测软体
 
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