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> 光学检测 > 薄膜厚度
MFS-F
手动光学薄膜厚度量测仪
量测功能
薄膜厚度、反射率、色度
系统模式
反射式光纤 或
反射式积分球(8/D, D/8Selective
)
波长范围
400-850nm
量测膜厚范围
300-400,000 Angstrom
精度
±1%
重复性
±1%
量测速度
少于1
秒
量测光源
卤素灯
适用样品
光学镀膜 (
玻璃,
丙烯酸,PET,矽晶圆SiO2,ITO,ZnO,CuO)
蓝宝石GaN,彩色滤片,太阳能电池,偏光镜等
系统平台
固定平台、x-y stage
、自动平台
亦可客制化样品台
选购
显微镜、色差量测软体
介绍
下载
标准品及采样附件
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